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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱(chēng)：
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)chroma58212-C LED芯片電測(cè)系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào)：
廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
所在地：深圳市
訪(fǎng)問(wèn)量：1784
更新時(shí)間：2025-10-26
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)chroma58212-C LED芯片電測(cè)系統(tǒng) 主要特色：高速及高精度支援水平型，垂直型和倒裝型芯片完整LED電性測(cè)試範(fàn)圍（200V/2A）可支援到8英寸晶圓Chroma大面積光偵測(cè)器強(qiáng)大的芯片位置掃描算法外部光屏蔽設(shè)計(jì)完整的分析工具和統(tǒng)計(jì)報(bào)告
產(chǎn)品特性Product characteristics
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池 |
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)chroma58212-C LED芯片電測(cè)系統(tǒng)
主要特色：
- 高速及高精度
- 支援水平型，垂直型和倒裝型芯片
- 完整LED電性測(cè)試範(fàn)圍（200V/2A）
- 可支援到8英寸晶圓
- Chroma大面積光偵測(cè)器
- 強(qiáng)大的芯片位置掃描算法
- 外部光屏蔽設(shè)計(jì)
- 完整的分析工具和統(tǒng)計(jì)報(bào)告
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)chroma58212-C LED芯片電測(cè)系統(tǒng)
測(cè)試項(xiàng)目
- 電源特性量測(cè) :
- Forward Voltage Measurement (Vf )
- Reverse Breakdown Voltage Measurement(Vrb)
- Reverse Leakage Current (Ir)
- SCR Detection - 光特性量測(cè) :
- Optical Power (mw, lm, mcd)
- Dominant Wavelength (Wd)
- Peak Wavelength (Wp)
- Full Width at Half Maximum (FWHM)
- CIExy - CCT - CRI
硬體設(shè)備
- 自動(dòng)化 LED wafer/chip 點(diǎn)測(cè)設(shè)備
- 電性測(cè)試模組
- 光學(xué)測(cè)試模組
- 選配ESD 測(cè)試模組
致茂58212-C是一臺(tái)自動(dòng)化的LED外延片/芯片探 針測(cè)試設(shè)備，提供快速、準(zhǔn)確的LED測(cè)量測(cè)且整 體量測(cè)時(shí)間＜125ms *1。
系統(tǒng)的設(shè)計(jì)採(cǎi)用了靈活的設(shè)計(jì)為不同類(lèi)型的LED 結(jié)構(gòu)包括橫向型，垂直型和倒裝芯片類(lèi)型。用戶(hù) 可以選擇合適的結(jié)構(gòu)類(lèi)型LED測(cè)量。完整掃描程 序可提供獨(dú)立的晶圓圖以保證測(cè)試的精度。專(zhuān)利 的探針頭可防止待測(cè)物的刮傷並確保每一個(gè)LED 接觸。
透過(guò)致茂獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)與元件可取得精確且穩(wěn) 定快速之光學(xué)數(shù)據(jù)如主波長(zhǎng)、峰波長(zhǎng)、色溫等， 該系統(tǒng)具備完整之電性量測(cè)單元，無(wú)論順向電 壓、漏電流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性， 均可於一次滿(mǎn)足使用者的測(cè)試需求。
58212-C包含彈性調(diào)整的軟體操作界面及先進(jìn)的 邏輯演算法使得生產(chǎn)效益大幅提升 ；完善的統(tǒng)計(jì) 報(bào)表及分析工具可以讓使用者用輕鬆掌握生產(chǎn)狀 況。
Note *1: 測(cè)試條件：在間距300um、5道電性測(cè) 項(xiàng)、1道光學(xué)測(cè)項(xiàng)條件下取樣。由於LED的特性的 差異，測(cè)量結(jié)果可能會(huì)有所不同。
