產(chǎn)品型號(hào)：

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

所在地：深圳市

訪問量：1932

更新時(shí)間：2025-10-26

產(chǎn)品簡介：

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)chroma11210電池芯絕緣測試器 

主要特色：

• 測試電壓: 最高 1KV (dc)
• 充電電流: 最大 50mA
• 寬範(fàn)圍的漏電流量測 (10pA ~ 20mA)
• 針對(duì)鋰電池潛在的內(nèi)部短路問題，執(zhí)行局部放電 (Partial Discharge)/電氣閃絡(luò) (Flashover)之偵測(選購項(xiàng)目 A112100):
  - 局部放電強(qiáng)度及次數(shù)的偵測與顯示
  - 在電壓/電流波形上，對(duì)局部放電做監(jiān)控 
  - 可設(shè)定局部放電之強(qiáng)度作為測試通關(guān)之條件
  - 可即時(shí)顯示和儲(chǔ)存發(fā)生局部放電時(shí)的電壓/電流波形 (選購項(xiàng)目 A112101)
• 內(nèi)建快速且可靠的接觸檢查功能
• 依順序自動(dòng)執(zhí)行測試程序:充電→保持→測量→放電
• 快速量測 (20ms/device)
• 480x272像素全彩顯示以及方便的觸控式螢?zāi)?/li>
• 具有標(biāo)準(zhǔn)Handler 介面以及USB、RS-232、Ethernet 等通訊介面

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)chroma11210電池芯絕緣測試器 

應(yīng)用領(lǐng)域

• 專門針對(duì)鋰電池乾電芯之絕緣測試
• 亦適用於各式各樣電容產(chǎn)品或特殊絕緣材料之絕緣測試

Chroma 11210電池芯絕緣測試儀為專門量測鋰電池(乾電芯)之漏電流(LC)或絕緣電阻(IR)並可進(jìn)行絕緣品質(zhì)檢測所新推出之儀器。除鋰電池乾電芯以外，亦可量測各式電容產(chǎn)品和絕緣材料，除標(biāo)準(zhǔn)的LC/IR量測以外，11210尚具有一特殊功能: 於高壓量測過程中，可針對(duì)絕緣體內(nèi)微小的局部放電 (Partial Discharge, PD) 或電氣閃絡(luò)(Flashover) 進(jìn)行偵測與分析 (以下簡稱"PD偵測功能")，此功能可確保鋰電池乾電芯在電解液填充前的品質(zhì)，在生產(chǎn)線上，能將具有潛在瑕疵的產(chǎn)品提前篩出，避免瑕疵產(chǎn)品進(jìn)入下一生產(chǎn)階段或甚至進(jìn)入終端市場，相對(duì)於傳統(tǒng)的絕緣測試，11210在絕緣材料品質(zhì)檢測這個(gè)領(lǐng)域，進(jìn)入了一個(gè)新的境界。

Chroma 11210擁有高水平的充電電流和快速的量測電路，使得整體測試速度得以大幅提升，對(duì)一般電容性待測物所做的絕緣測試均可細(xì)分為四個(gè)程序: 充電→保持→測量→放電，11210可高速而自動(dòng)的依序執(zhí)行這些程序，最快可以在20ms內(nèi)執(zhí)行完一個(gè)完整測試。亦即，如生產(chǎn)線需要執(zhí)行高速測試，11210可以達(dá)到每秒50 pcs的超高速度，對(duì)於生產(chǎn)線的效率提升非常顯著！

為了達(dá)到精準(zhǔn)的LC/IR量測，Chroma 11210在漏電流量測上可細(xì)分為7個(gè)檔位，從最小10pA到最大20mA均可量測。另外，Auto-range之功能可自動(dòng)切換至最佳檔位執(zhí)行量測，省卻使用者的不便並確保量測精準(zhǔn)度。

在PD偵測的方面，由於Chroma 11210使用特殊電路設(shè)計(jì)，在執(zhí)行此PD檢測功能並不會(huì)增加任何額外的測試時(shí)間，LC/IR的量測與PD偵測可在同一時(shí)間內(nèi)完成；同時(shí)，LC/IR量測與PD偵測的結(jié)果可連同報(bào)表同時(shí)產(chǎn)出並在螢?zāi)簧铣尸F(xiàn)。於生產(chǎn)線上，仍可以20ms/min.的高速同時(shí)執(zhí)行LC/IR量測和PD檢測。

對(duì)於任何一項(xiàng)絕緣測試而言，接觸檢查對(duì)於測試的可靠性都有決定性的影響，在整個(gè)量測過程中，"沒有接觸"也很有可能被判定為良品，這樣的誤判會(huì)讓不良品進(jìn)入市場，如果待測物的絕緣電阻非常高，這種誤判情形會(huì)更明顯；所以一般而言，絕緣測試在測試過程中一定要進(jìn)行接觸檢查，Chroma 11210架構(gòu)使用高階電路，可在5ms內(nèi)執(zhí)行一次完整的接觸檢查，並可選擇量測前執(zhí)行、量測後執(zhí)行或量測前後皆執(zhí)行。