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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱：
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)長(zhǎng)盛CS9923DG光伏綜合測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
所在地：深圳市
訪問量：1053
更新時(shí)間：2025-10-25
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)長(zhǎng)盛CS9923DG光伏綜合測(cè)試儀 光伏綜合測(cè)試儀產(chǎn)品介紹 光伏安規(guī)測(cè)試儀是一種用于測(cè)試PV模塊、電纜、連接器、接線盒的試驗(yàn)儀器，可應(yīng)對(duì)高電壓和高靈敏度絕緣試驗(yàn)。具有DC耐壓測(cè)試和絕緣電阻測(cè)試兩種功能，根據(jù)IEC61730標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)光伏組件應(yīng)用等級(jí)的定義，分為A、B、C級(jí)。
產(chǎn)品特性Product characteristics
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池 | 范圍 | 0.500kV～10.00kV |
| 精度 | ±（1.5％讀值+5V） | 分辨率 | 1V |
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)長(zhǎng)盛CS9923DG光伏綜合測(cè)試儀
光伏綜合測(cè)試儀產(chǎn)品介紹
光伏安規(guī)測(cè)試儀是一種用于測(cè)試PV模塊、電纜、連接器、接線盒的試驗(yàn)儀器，可應(yīng)對(duì)高電壓和高靈敏度絕緣試驗(yàn)。具有DC耐壓測(cè)試和絕緣電阻測(cè)試兩種功能，
根據(jù)IEC61730標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)光伏組件應(yīng)用等級(jí)的定義，分為A、B、C級(jí)。
電流測(cè)量端可選擇接地模式或浮地模式。光伏組件的絕緣耐壓試驗(yàn)同IEC61215/61646一樣依據(jù)于應(yīng)用類別和系統(tǒng)的最大電壓。
測(cè)試最大電壓對(duì)于應(yīng)用類別A：2000V加4倍系統(tǒng)最大電壓。
對(duì)于應(yīng)用類別B：1000V加2倍系統(tǒng)最大電壓。
根據(jù)計(jì)算A類最大電壓為8000V，公司CS9923G正依據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)。
根據(jù)計(jì)算B類最大電壓為6000V，公司CS9922G正依據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)。
光伏綜合測(cè)試儀*性能
高精度電流測(cè)量，0.001uA判斷分辨率 快速的電壓建立時(shí)間：
（1）直流輸出電壓的建立時(shí)間為60ms。
（2）步與步之間的時(shí)間最小為450ms。
輸出電壓具有正常模式和梯度模式。
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)長(zhǎng)盛CS9923DG光伏綜合測(cè)試儀
光伏綜合測(cè)試儀應(yīng)用領(lǐng)域
太陽(yáng)能接線盒及太陽(yáng)能連接器
硅片/太陽(yáng)能電池
晶硅電池組件
太陽(yáng)能光伏組件、單、多晶硅片、電池片
逆變器
電纜及連接材料
蓄電池、控制器
薄膜電池組件
蓄電池/充電調(diào)節(jié)器
含氟薄膜復(fù)合型光伏組件背板專業(yè)生產(chǎn)
光伏綜合測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)
型號(hào) | CS9923CG | CS9923DG | CS9923ECG | CS9923ECG-1 | ||
交流耐壓 | 輸出電壓 | 范圍 | 0.500kV～10.00kV | 0.500kV～10.00kV | 0.500kV～10.00kV | 0.500kV～10.00kV |
精度 | ±（1.5％讀值+5V） | ±（1.5％讀值+5V） | ±（1.5％讀值+5V） | ±（1.5％讀值+5V） | ||
分辨率 | 1V | 1V | 1V | 1V | ||
最大輸出功率 | 100VA（5.000kV/20mA） | 100VA（5.000kV/20mA） | 100VA（5.000kV/20mA） | 100VA（5.000kV/20mA） | ||
最大額定電流 | 20mA | 20mA | 20mA | 20mA | ||
輸出波形 | 正弦波 | 正弦波 | 正弦波 | 正弦波 | ||
輸出波形失真度 | ≤5%（空載或純阻性負(fù)載） | ≤5%（空載或純阻性負(fù)載） | ≤5%（空載或純阻性負(fù)載） | ≤5%（空載或純阻性負(fù)載） | ||
波峰因數(shù) | 1.3～1.5 | 1.3～1.5 | 1.3～1.5 | 1.3～1.5 | ||
輸出信號(hào)類型 | DDS+線性功放驅(qū)動(dòng)輸出 | DDS+線性功放驅(qū)動(dòng)輸出 | DDS+線性功放驅(qū)動(dòng)輸出 | DDS+線性功放驅(qū)動(dòng)輸出 | ||
測(cè)試時(shí)間 | 0.3s～999.9s，0=連續(xù)測(cè)試 | 0.3s～999.9s，0=連續(xù)測(cè)試 | 0.3s～999.9s，0=連續(xù)測(cè)試 | 0.3s～999.9s，0=連續(xù)測(cè)試 | ||
電弧偵測(cè) | 0~9，0為關(guān) | 0~9，0為關(guān) | 0~9，0為關(guān) | 0~9，0為關(guān) | ||
直流耐壓 | 輸出電壓 | 范圍 | 0.500kV～10.00kV | 0.500kV～10.00kV | 0.500kV～10.00kV | 0.500kV～10.00kV |
精度 | ±（1.5％讀值+5V） | ±（1.5％讀值+5V） | ±（1.5％讀值+5V） | ±（1.5％讀值+5V） | ||
分辨率 | 1V | 1V | 1V | 1V | ||
最大輸出功率 | 60VA（6.000kV/10mA） | 60VA（6.000kV/10mA） | 60VA（6.000kV/10mA） | 60VA（6.000kV/10mA） | ||
最大額定電流 | 10mA | 10mA | 10mA | 10mA | ||
紋波系數(shù) | ≤5%（6kV/10mA） | ≤5%（6kV/10mA） | ≤5%（6kV/10mA） | ≤5%（6kV/10mA） | ||
放電時(shí)間 | ≤200ms | ≤200ms | ≤200ms | ≤200ms | ||
測(cè)試時(shí)間 | 0.3s～999.9s，0=連續(xù)測(cè)試 | 0.3s～999.9s，0=連續(xù)測(cè)試 | 0.3s～999.9s，0=連續(xù)測(cè)試 | 0.3s～999.9s，0=連續(xù)測(cè)試 | ||
絕緣電阻 | 輸出電壓 | 范圍 | 0.500kV -1.000kV | 0.500kV-2.500kV | 0.500kV-2.500kV | 0.500kV-5.000kV |
精度 | ±（1.5％讀值+5V） | ±（1.5％讀值+5V） | ±（1.5％讀值+5V） | ±（1.5％讀值+5V） | ||
分辨率 | 1V | 1V | 1V | 1V | ||
最大上限設(shè)定值 | 49.999GΩ | 49.999GΩ | 49.999GΩ | 49.999GΩ | ||
最大下限設(shè)定值 | 49.999GΩ | 49.999GΩ | 49.999GΩ | 49.999GΩ | ||
最小下限設(shè)定值 | 1MΩ | 1MΩ | 1MΩ | 1MΩ | ||
測(cè)試時(shí)間 | 0.0s，0.3s～999.9s 0=連續(xù)測(cè)試 | 0.0s，0.3s～999.9s 0=連續(xù)測(cè)試 | 0.0s，0.3s～999.9s 0=連續(xù)測(cè)試 | 0.0s，0.3s～999.9s 0=連續(xù)測(cè)試 | ||
自動(dòng)切換檔位 | 可設(shè)置為開、關(guān) | 可設(shè)置為開、關(guān) | 可設(shè)置為開、關(guān) | 可設(shè)置為開、關(guān) | ||
放電時(shí)間 | ≤200ms | ≤200ms | ≤200ms | ≤200ms | ||
接地電阻 | 輸出電流 | 范圍 | （5.0~40.0）A | （5.0~60.0）A | （5.0~60.0）A(DC) | （5.0~60.0）A(DC) |
精度 | ±（1.5％讀值+0.1A） | ±（1.5％讀值+0.1A） | ±（1.5％讀值+0.1A） | ±（1.5％讀值+0.1A） | ||
分辨率 | 0.1A | 0.1A | 0.1A | 0.1A | ||
電阻下限設(shè)定 | 0~電阻上限值 | 0~電阻上限值 | 0~電阻上限值 | 0~電阻上限值 | ||
測(cè)試時(shí)間 | 0.3s～999.9s，0=連續(xù)測(cè)試 | 0.3s～999.9s，0=連續(xù)測(cè)試 | 0.3s～999.9s，0=連續(xù)測(cè)試 | 0.3s～999.9s，0=連續(xù)測(cè)試 | ||
